CDM-815C卤素照明金相显微镜
使用专业的金相物镜及平场目镜，成像质量好，分辨率高，观察舒适。提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构。选配相应的摄影摄像附件，可对观察图像进行采集和保存，配电脑和专业金相分析软件图像进行金相图像分析。操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。
CDM-398高档型正置反射金相显微镜
无限远反射金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置大视野目镜与偏光观察装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.
CDM-22高配置倒置型金相显微镜
CDM-22系列倒置金相显微镜主要用于鉴别和分析金属内部结构组织，倒置金相显微镜是金属学研究金相的重要仪器。铸造。冶炼、热处理的质量研究，原材料的检验或材料处理后的分析等均可使用倒置金相显微镜。
CDM-33无穷远倒置金相显微镜
本仪器可广泛用于机械工业的金相组织观察分析，地矿部门对矿物的分析研究，电子等方面的观察测量，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业的首先。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好，简洁而新颖的外观更符合现代潮流，人性化的设计，简便的操作使您从繁重的工作压力中解放出来。
CDM-802高档研究型倒置金相显微镜
CDM-802倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与模块化的功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。也适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业观察透明、半透明、不透明的物质，如金属、陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其他非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。
CDM-201研究型正置金相显微镜
无限远透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置大视野目镜与偏光观察装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.
XJ-53C三目正置金相显微镜
XJ-53C三目正置金相显微镜配置了立杆式的机架和移动工作台，显微镜主体可大范围升降和360°旋转。尤其适合于观察有一定高度的大工件试样，也适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，材料表面的某些特征（划痕、裂纹、喷涂的均匀性），化学颗粒等方面的研究。
XJ-52C科研级三目正置金相显微镜
XJ-52C科研级三目正置金相显微镜配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时配有偏光装置，可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，电子芯片的检查或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
XJ-51C科研级三目倒置金相显微镜
XJ-51C科研级三目倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置，并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金属、岩矿内部结构组织的鉴定和分析，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
XJ-51BD科研级暗场金相显微镜
XJ-51BD科研级暗场金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、暗场装置，可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。
XJ-55BD三目暗场金相显微镜
XJ-55BD三目暗场金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、暗场装置，可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。
CDM-819高档研究级金相显微镜
CDM-819高档研究级金相显微镜，反（落）射照明器，柯拉照明系统，带视场光阑与孔径光阑，中心可调；带斜射照明装置，透、反射式机架，前置低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程30mm，微调精度0.001mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置5W暖色LED透射光照明系统，上下光可独立控制。