LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜
LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜

LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜

工程师支持
品牌
MicroDemo
产品编号
1454
产品型号
LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜
服务支持
景通仪器负责发货,并提供服务支持
起订量
市场报价
发货日
1
面议
3-7天
询底价 在线工程师

景通仪器厂温馨提示:

由于该产品已多次升级更新换代,我们无法保证LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜的图片和参数等信息为最新最全面信息,我们强烈建议推荐您点击此处联系我们的在线工程师,他将给您推荐最专业的产品,同时我们也欢迎您来电咨询:!

用途:

LW400MT系列正置明暗场偏光透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用显微镜,配有五孔转换器,明/暗场物镜,大视野目镜,100W大功率反射式及30W透射式“柯勒”照明系统,视场清晰明亮,并可配落射暗场照明装置。可用于半导体硅晶片、掩膜板,LCD基板,电路板,固体粉末及其它各种透明或不透明工业试样的检验;也可作生物试样、金相试样矿物试样及岩相试样的检验。

技术参数:

1、镜筒:T三目,30°倾斜

2、高眼点目镜:WF10X/Φ25mm

3、明暗场金相物镜:5X、10X、20X、40X

4、转换器:五孔

5、工作台尺寸:310mm×350mm

6、调焦:粗微动同轴,范围36mm,微动0.002mm

7、光源:垂直照明,卤素灯12V100W,亮度可调

8、DIC装置:偏光装置、明暗场转换

选购件:

1、500万或者1000万像素数码摄像头

2、610万工业CCD;

3、测量软件或者金相分析软件。

4、明暗场物镜:50X