Leica DM8000M金相显微镜
徕卡DM8000M提供了全新的光学设计，如理想的宏观检查模式或者倾斜紫外光(OUV, 随检UV 选择)不但提高了分辨能力，同时也增加了观察 8"/200毫米直径大样品时的产量。该机照明基于Zui新的LED科技，一体化整合在显微镜机身上。低热辐射效应和一体化内置技术确保了显微镜四周空间具有理想化的空气环流。LED的超长使用寿命和低能耗特性大大降低了用户今后的使用成本。
Leica ICC50 HD数码CCD成像系统
Leica ICC50高清摄像头是一个高清晰度的数码显微镜摄像头，可以轻松地装固在观察镜筒和任何手动DM显微镜座之间，并提供了一个快速的实时高分辨率图像在计算机屏幕上或高清显示器中。该相机可以捕捉300万像素的彩色图像直接到SD卡或连接的PC，直观的图像处理软件允许简单的微调，捕捉，和图像的归档。LAS EZ软件还允许基本的注解和测量。
LM-50/LM-100正置生物显微镜
发展孩子们的科学思维方式，简单易操作，提供给孩子们一个迷人的显微世界，可用做生物显微镜观察标本切片，通过简单易用的装置(附带)，可观察池塘中的水等液体以及石子、昆虫、植物等较大物体。
LW200-2JT三目正置金相显微镜
正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光装置。本系列产品适合电子，冶金、化工和仪器表行业用于观察透明、半透明或不透明的物质，如金属陶瓷、电子陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。
LW200-3JT正置金相显微镜
LW200系列正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光装置。
LW300LJT正置芯片检查显微镜
LW300系列无限远正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有透反射照明器、无限远平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光装置。
LW300LMDT--DIC正置明暗场金相显微镜
LW300LMDT--DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
LW300LMDT明暗场芯片检查显微镜
LW300LMDT正置明暗视场透反射芯片显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置明/暗场物镜、大视野目镜与偏光观察装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于芯片、半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.
LW300MT正置芯片检查金相显微镜
专为微电子行业量身定做，适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查；可以方便的快移和精确的位移检查；也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。
LW400JT 芯片检查显微镜
LW400JT芯片检查显微镜适用于对不透明物体的进行显微观察。配置大移动范围的机械式载物台、落射照明器、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。
LW400LJT 芯片检查显微镜
LW400LJT适用于对不透明物体的显微观察及8寸芯片观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、暗场观察等功能，紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜
LW400MT系列正置明暗场偏光透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用显微镜，配有五孔转换器，明/暗场物镜，大视野目镜，100W大功率反射式及30W透射式“柯勒”照明系统，视场清晰明亮，并可配落射暗场照明装置。可用于半导体硅晶片、掩膜板，LCD基板，电路板，固体粉末及其它各种透明或不透明工业试样的检验；也可作生物试样、金相试样矿物试样及岩相试样的检验。