金相显微镜

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XP-620无限远透射偏光显微镜

XP-620无限远透射偏光显微镜

XP-620无限远透射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户进行透射单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。

BMM-230DIC微分干涉相衬显微镜

BMM-230DIC微分干涉相衬显微镜

BMM-230DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

BMM-100DIC工业检测显微镜

BMM-100DIC工业检测显微镜

BMM-100DIC工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察, DIC观察等功能,导柱升降装置,可以快速调整工作台与物镜之间的距离,适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动,机构升降平稳。产品适用于精密零件,集成电路,包装材料等产品检测。

BMM-100/100BD工业检测显微镜

BMM-100/100BD工业检测显微镜

BMM-100/100BD工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,导柱升降装置,可以快速调整工作台与物镜之间的距离,适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台可有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动,机构升降平稳。产品适用于精密零件,集成电路,包装材料等产品检测。

BMM-230BDDIC型倒置金相显微镜

BMM-230BDDIC型倒置金相显微镜

BMM-230BDDIC型倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计,可以方便升级系统,实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功能。照明系统充分考虑散热性与安全性,可快速更换灯泡。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。可用于半导体硅晶片、LCD基板、固体粉未及其它工业试样的显微观察,是材料学、精密电子工程学等领域研究的理想仪器。

DX系列数码摄影金相显微镜

DX系列数码摄影金相显微镜

主要介绍了DX40+D数码摄影金相显微镜、DX50A+D数码摄影金相显微镜、DX60+D数码摄影金相显微镜、DX70BD+D数码摄影金相显微镜四款数码摄影显微镜,包括他的技术参数及主要系统介绍。

BX310系列无限远光学系统正置金相显微镜

BX310系列无限远光学系统正置金相显微镜

BX310系列无限远光学系统正置金相显微镜,符合人机工程学,模块化功能设计、无限远长工作距物镜,广角大目镜、内切换偏光装置,滤色片组推进器、可选透反射照明两用(BX310B)、可选明暗场,微分干涉相衬系列。

DX50A无限远光学系统三目倒置金相显微镜

DX50A无限远光学系统三目倒置金相显微镜

DX50A无限远光学系统三目倒置金相显微镜、偏光装置,大型双支承载物台带转盘、五物镜转换器,长工作距平场物镜、企业理化室和高等院校优选机型、可升级图像处理与分析系统,是各工矿企业,科研院所和高等院校的常规装备,并可以升级显微摄影摄像与图像处理,金相图像分析系统。

BX310.BD明暗场金相显微镜

BX310.BD明暗场金相显微镜

无限远光学系统正置金相显微镜、符合人机工程学,模块化功能设计、无限远长工作距物镜,广角大目镜、内切换偏光装置,滤色片组推进器、可选透反射照明两用(BX310B)、可选明暗场,微分干涉相衬系列

BX310.DIC微分干涉金相显微镜 

BX310.DIC微分干涉金相显微镜 

BX310.DIC微分干涉金相显微镜 ,三目同步光学输出,标准接口,可100%通光摄影,同轴粗微动,升降30mm,微调2µm,调焦定位和松紧调节,明场柯勒照明,可变孔径和视场光阑,卤素灯12V/50W,内切换起/检偏振器,起偏器可360º旋转。

GX101三目同步光学输出工业金相显微镜

GX101三目同步光学输出工业金相显微镜

GX101系列工业金相显微镜,带有同轴落射照明系统,偏光装置和内切换滤色片,大型移动载物台适合电子行业大面积硅晶片,PCB和LCD,柔性电路和薄膜及材料金相检验等。 工业金相显微镜是材料,地矿,机械,电子,科研院所和高等院校的常规装备,并可以升级显微摄影和图像处理与分析系统。

GX302.DIC微分干涉金相显微镜

GX302.DIC微分干涉金相显微镜

GX302DIC微分干涉工业金相显微镜,具有落射DIC微分干涉相衬装置与透射照明系统,并带有偏光装置和内切换滤色片,大型移动载物台适合电子行业大面积硅晶片,PCB和LCD,柔性电路和薄膜及材料金相检验等。适用于常规状态难以观察和特殊显微研究。

金相显微镜可用于现场鉴定无法制作金相试样时的各种金属与合金的组织结构,广泛应用于现场对金属材料作金相分析及大型金属工件的金相组织检查。便携式显微镜一次照明充电可连续使用四十个小时左右,使用时间长、省电。LED灯Zui大特点温升很小,没有多大的热量,使用安全。