LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜
LW400MT系列正置明暗场偏光透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用显微镜，配有五孔转换器，明/暗场物镜，大视野目镜，100W大功率反射式及30W透射式“柯勒”照明系统，视场清晰明亮，并可配落射暗场照明装置。可用于半导体硅晶片、掩膜板，LCD基板，电路板，固体粉末及其它各种透明或不透明工业试样的检验；也可作生物试样、金相试样矿物试样及岩相试样的检验。
LW300LMDT--DIC正置明暗场金相显微镜
LW300LMDT--DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
LW300LJT正置芯片检查显微镜
LW300系列无限远正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有透反射照明器、无限远平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光装置。
LW300LMDT明暗场芯片检查显微镜
LW300LMDT正置明暗视场透反射芯片显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置明/暗场物镜、大视野目镜与偏光观察装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于芯片、半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.
LWM400JT芯片检查金相显微镜
芯片检查显微镜适用于对不透明物体的进行显微观察。配置大移动范围的机械式载物台、落射照明器、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。
LW200-2JT三目正置金相显微镜
正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光装置。本系列产品适合电子，冶金、化工和仪器表行业用于观察透明、半透明或不透明的物质，如金属陶瓷、电子陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。
LWD300系列数码倒置明暗场金相显微镜
LWD300系列数码倒置明暗场金相显微镜，内置二次开发的数字摄像系统，进口的芯片由中科院属企业精心打造，细腻逼真的图像效果是仪器高品质标准的重要体现，同时免去使用者摄像头装卸和同步校正的麻烦。采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的使用要求！
LWD200-4T倒置金相显微镜
倒置金相显微镜，适用于厂矿企业、高等院校及科研等机构作材料的表面组织结构观察和机械状态检测之用。也是金相、岩相、矿相、晶体等方面的实验与分析的首选。
V5双杆万能支架
V5双杆万能支架：底板尺寸：330×330×17.5mm；立柱直径为32mm；总高度为410mm。
LW300MT正置芯片检查金相显微镜
专为微电子行业量身定做，适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查；可以方便的快移和精确的位移检查；也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。
LWD200-4XB双目倒置金相显微镜
本仪器是用户鉴别和分析各种金属和合金的组织结构。可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定。原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析等工作。
4XC倒置金相显微镜
4XC系列倒置金相显微镜主要用于鉴别和分析金属内部结构组织，倒置金相显微镜是金属学研究金相的重要仪器。铸造。冶炼、热处理的质量研究，原材料的检验或材料处理后的分析等均可使用倒置金相显微镜。