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6XD-3三目有限远光学校正系统教学金相显微镜

6XD-3三目有限远光学校正系统教学金相显微镜

6XD-3三目有限远光学校正系统教学金相显微镜,透射、返射、偏光、明场,四孔转换器,上下照明卤素灯照明,专业金相图像分析软件、计算机,专用适配镜、YH-300数码摄像头。

金相分析系统

金相分析系统

《金相分析软件系统》是为从事金相检验的单位或个人专门开发的一套计算机软件系统,它的基本原理是:用视频采集卡或数码相机等硬件设备,采集到金相显微镜中的金相图片,再对该图片进行处理和分析,得到相关检验结果。

广角目镜

广角目镜

目镜:10X,16X、20X;直径:23.2。

BJ-X手持金相显微镜

BJ-X手持金相显微镜

便携式金相显微镜由于自带垂直照明光源,可以很方便的用于现场或无法制作试样时鉴别各种金属和合金的组织结构可广泛的应用在工厂,实验室进行铸件质量的鉴定,原材料检验或对材料处理后金组织的研究分析等工作,也可以用作古董宝石及作表面细微观察之用。

LWT300LMDT无穷远明暗场金相显微镜

LWT300LMDT无穷远明暗场金相显微镜

LWT300LMDT显微镜可进行明视场、暗视场、简易偏光观察。是半导体检验、电路封装、电路基板、材料等行业理想的仪器。本仪器配置大视野目镜和长工作距离平场消色差物镜(无盖玻片),视场大而清晰, 粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:0.8μm,三目镜筒,可自由切换正常观察/偏光观察,明视场/暗视场观察. 可进行100%透光摄影。

LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜

LW400MTDT正置芯片检查金相显微镜

LW400MT系列正置明暗场偏光透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用显微镜,配有五孔转换器,明/暗场物镜,大视野目镜,100W大功率反射式及30W透射式“柯勒”照明系统,视场清晰明亮,并可配落射暗场照明装置。可用于半导体硅晶片、掩膜板,LCD基板,电路板,固体粉末及其它各种透明或不透明工业试样的检验;也可作生物试样、金相试样矿物试样及岩相试样的检验。

LW300LMDT--DIC正置明暗场金相显微镜

LW300LMDT--DIC正置明暗场金相显微镜

LW300LMDT--DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

LW300LJT正置芯片检查显微镜

LW300LJT正置芯片检查显微镜

LW300系列无限远正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有透反射照明器、无限远平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光装置。

LW300LMDT明暗场芯片检查显微镜

LW300LMDT明暗场芯片检查显微镜

LW300LMDT正置明暗视场透反射芯片显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器,配置明/暗场物镜、大视野目镜与偏光观察装置,透反射照明采用“柯勒”照明系统,视场清晰。可用于芯片、半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.

LWM400JT芯片检查金相显微镜

LWM400JT芯片检查金相显微镜

芯片检查显微镜适用于对不透明物体的进行显微观察。配置大移动范围的机械式载物台、落射照明器、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。

LW200-2JT三目正置金相显微镜

LW200-2JT三目正置金相显微镜

正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光装置。本系列产品适合电子,冶金、化工和仪器表行业用于观察透明、半透明或不透明的物质,如金属陶瓷、电子陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料,也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。

LWD300系列数码倒置明暗场金相显微镜

LWD300系列数码倒置明暗场金相显微镜

LWD300系列数码倒置明暗场金相显微镜,内置二次开发的数字摄像系统,进口的芯片由中科院属企业精心打造,细腻逼真的图像效果是仪器高品质标准的重要体现,同时免去使用者摄像头装卸和同步校正的麻烦。采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的使用要求!         

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