CL-CM40BD自动清洁度颗粒分析仪
CL-CM40BD自动清洁度颗粒污染分析设备是采用光学显微镜测定颗粒清洁度、颗粒污染度的专业仪器。高精度电动平台，自动化分析软件，高清图像扫描相机，具有自动化高、工作流程化设计模式，操作简便，采集图像快速高效，无缝拼接浏览，智能识别统计，按照选择标准生成结果及报告。针对在制造和装配过程中的颗粒污染物残留，检查电路板电子元件、检测航空航天部件、汽车零部件、食品加工设备和环境中的微生物和残留物。也适用于油品清洁度检测，润滑油清洁度颗粒检测，乳化液清洁度检测，防冻液清洁度检测颗粒检测。
Classica E系列正置生物显微镜
Classica E系列教学显微镜是德国设计的高性能教学显微镜。它以其卓越的光学质量和高级的机械设计广泛应用于教学，而且价格实惠。Classica E系列教学显微镜，物超所值。
CM120BD-AF研究级电动12寸大平台金相显微镜半导体芯片/晶圆/LCD检查
研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM120BD研究级12寸明暗场金相显微镜线路板切片测量晶圆检测
研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CMD-2010M工具测量显微镜
CMD系列工具显微镜，是一种集软件、光、机、电一体的高精度、高效率的显微测量仪器，是同时具有高精度线性测量和观察功能的多功能量测仪器； CMD-2010M主体机构通过搭配MT三目光学测量镜筒、高清数字相机、照明装置、升降机构及对焦机构，具有多种数据测量、显微放大、显示输入和输出等数据处理功能。
CMM-1010D系列Z轴电动手脉工业测量显微镜
本司新推出的Z軸電動手脈工业測量顯微鏡，使用專業訂制的高精准細分脈衝工业測量電機，通過設置多種脈衝細分量和機構上的精准調校，可以實現快中慢三檔調速來控制Z軸光學鏡頭上下移動
CMY-290DM透反射数码金相显微镜
透反射数码金相显微镜CMY-290DM由CMY-290和HDP5612显示屏相机组成。CMY-290配置了透射、落射照明装置，既可以观察金属材料的金相组织结构，也可以观察半透明，甚至不透明的生物标本。采用了无限远长工作距平场消色差金相物镜和大视野目镜，具有成像清晰，视野广阔，操作方便等特点。 HDP5612显示屏相机图像色彩还原接近原色，提供鼠标操作，厂家出厂配套无线鼠标，保证产品使用灵活方便； 11.6寸1080P液晶屏显示内置测量软件，可拍照录像测量预览图片，支持U盘存储，内置工业相机全部需要的功能。CMY-290DM尤其适合观察金相试样，电子芯片等样品，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
CMY-500BD科研级金相显微镜(陶瓷部件、精密模具检测)
CMY-500BD研究型明暗场金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件、金属、陶瓷部件、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明形式，在反射光照明下可进行明暗场观察（选购DIC装置）、偏光观察。在透射光下作明场观察。
CMY-53BD明暗场透反射金相显微镜(内置偏光装置)
明暗场透反射金相显微镜CMY-53BD采用无限远色差校正光学系统，配置了落射与透射照明系统、无限远半复消色差物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察，尤其适合观察金相试样，电子芯片等样品。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
coolpix L22/L23接口，coolpix P7100接口
通过各种TV0.5X 、TV1XC接口可直接连接到各种显微镜三目筒或是双目镜筒上，从而可以把显微镜摄像头安装在显微镜上配套使用，具有显微摄影功能。
CSB-3230BD正置透反射金相显微镜(已停产)
配置大视野目镜和无限远长距平场消色差物镜(明/暗场物镜)，视场大而清晰。 ◆ 粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。 ◆ 三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察，可进行100%透光摄影。 ◆ 提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构：操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。
CSB-DIC3230D大型正置微分干涉相衬金相显微镜(已停产)
CSW-DIC3230D大型正置微分干涉相衬金相显微镜适用于对不透明物体的表面形态进行反射式微分干涉相衬观察，也可对透明物体进行透视显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、微分干涉相衬观察等功能，紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
CSB-JX100金相显微镜(已停产)
产品适用于精密零件，集成电路，包装材料等产品检测。适用于不同厚度工件检测。
CSB-TW01粗微调焦机构(已停产)
粗微同轴调节，可高精度移动。
CSB-UV200工业摄像头(已停产)
CSW-UV200工业摄像头，可支持VGA、USB、AV三种信号输出，是目前国内唯一一款多功能摄像头，主要用于工业品生产检测、芯片平整度检测、冲压端子等尺寸检测、测量，教学研究、材料分析、临床检验、显微镜图像观察和分析、激光加工、精密测量、包装设备、医药设备检验、PCB检测、半导体及元器件检测等领域。
CSB-V130 VGA相机(已停产)
200万像素, 1/3" CMOS彩色,Zui高分辨率1600X1200,清晰度800TV线以上，15至45帧/秒 15fps@1600*1200, 30fps@1024*768, 45fps@800*600。直接连接电脑显示器,实时的视频图像观看,图像清晰,稳定,无闪烁,在近距离长时间观看眼晴也不容易疲劳。
CSB-V20CL(已停产)
支持256MB至32GB的U盘，兼容性强； 高精度的测量功能，具有“线”、“圆”、“矩形”和“角度” 等多种测量工具； 具有12组十字线，充分满足用户定位需求； 首创的HDR宽动态图像显示效果，适合检测“金属”和“焊锡 点”等强反射和强对比物体； 支持所有PS/2接口鼠标，搭配功能强大的OSD菜单，给予用户操 作计算机般的体验； 首创的VGA相机鼠标绘图模式，绘制测量图形更加方便； 独特的防尘底座，保证感光器件表面始终清洁。