VMS818连续变倍大视野体视显微镜
VMS818体视显微镜的光学系统均采用了多层镀膜的高性能光学透镜，0.75X-13.5X的变倍物镜配合全新设计的IXPLAN APO大物镜，变焦倍率比达到1:18,在10X目镜下能够实现75X-135X的变倍范围，让您既可以在低放大倍率下进行高质量的整体观察，又可以快速放大以进行微米级的细节观察。观察高、厚、不规则样品。
WAT-130G系列VGA接口工业相机
HG工业相机系列VGA接口“WAT-130G”，此款相机将替代WAT-130。新品采用SONY低噪声高灵敏度感光芯片，输出帧率提升为60FPS，图像流畅度得到了大幅提升。此外，WAT-130G还采用了HG图像Zui新的HDR及颜色校正算法，使得图像效果大幅提高。WAT-130G是HG图像自主研发的基于VGA接口输出图像的工业相机。此系列产品单独供电，可直接输出图像到显示器，无需使用电脑，支持宽屏普屏切换，极大节省系统成本。可广泛应用于各类工业检测领域。
WAT-130M系列VGA工业相机
MV-VGA系列百万像素带十字线VGA工业相机是集图像采集、处理、显示于一体，采用高质量的传感器芯片和当前性能Zui强大的专用图像处理DSP，图像清晰度高，色彩艳丽，边沿轮廓分明，智能化程度高，搭建系统成本低，直接VGA接口显示设备，不需要连接电脑来显示，提高了显示速度，节省了成本，可联接工业显微镜头、显微镜进行图像观察，可广泛应用于工业检测，医疗等应用领域。
WL-20便携式读数显微镜
WL-20系列便携式读数显微镜能广泛应用于工厂生产现场的检验测量和实验室的观察研究，尤其适用于电子、机械制造业，纸张制造业，印刷业，纺织业等的生产现场检查。该产品体积小，重量轻，造型新颖，操作简便，也可供学生实验使用。
WMD-6970矿相岩相显微镜
WMD-6970系列矿相显微镜主要用于地质勘查(区域地质勘查、海洋地质勘查、水文地质勘查、工程地质勘查、环境地质勘查、固体矿产勘查、地球化学勘查)、电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察半透明或不透明的物体。如矿物、金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，适合于地质勘探、学校、科研部门作观察分析用。该系列仪器可用作单偏光观察、锥光观察、正交偏光观察。
WT4000 偏光专用热台
WT-4000型精密温控加热台是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学而研制。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化和。该仪器采用人性化“傻瓜”设计，自动化程度高，操作简单，技术先进，性能优秀，结构新颖可靠，在该领域处于领先水平。
XC10彩色数码CCD相机
奥林巴斯XC10高清彩色CCD具有1.4MP的冷却功能，在低光照条件下依然拥有超长的曝光时间，并能提供卓越的图像质量，分辨率达到1376×1032像素。
XH-400A便携式金相显微镜
XH-400A是新型的便携式金相显微镜。它在功能上比原有的便携式金相显微镜增加了物镜转换器和微调机构。仪器机身机构重心稳定,确保显微镜的精度像质清晰,视场明亮均匀,观察合适.仪器的上部目镜筒也可安装数码相机、CCD 摄像头、数字摄像头进行金相图片的采集。
XH-600A便携式金相显微镜
XH-600A是新型的便携式金相显微镜。它在功能上比原有的便携式金相显微镜增加了物镜转换器和微调机构。仪器机身机构重心稳定,确保显微镜的精度像质清晰,视场明亮均匀,观察合适.仪器的上部目镜筒也可安装数码相机、CCD 摄像头、数字摄像头进行金相图片的采集。
XJ-51BD科研级暗场金相显微镜
XJ-51BD科研级暗场金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、暗场装置，可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。
XJ-51C科研级三目倒置金相显微镜
XJ-51C科研级三目倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置，并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金属、岩矿内部结构组织的鉴定和分析，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
XJ-52C科研级三目正置金相显微镜
XJ-52C科研级三目正置金相显微镜配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时配有偏光装置，可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，电子芯片的检查或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。